應用於半導體，表面粗度測量、二三次元非接觸影像測量儀、立.臥式光學投影機、舜檢機、工具顯微鏡、刀具預調儀、開放式光學尺&顯示器、雷射干涉儀 ，3D光學掃描:逆向工程,原子力掃瞄顯微儀(AFM)等奈米尺度高階儀器。二手量測設備估價販售。